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唐领科技精彩亮相 IOTE 零 零深圳全世界物联网展
CISCXplorerRAINInline帮助实时发现 工序中 异常情况。
测试速度 零零KUPH
通过 个标签仿真器评估RAINRFID读写器 性能和规范性
零零MHZ至 GHZ
先进 移相VS灵敏度、阻抗VS灵敏度、Tx功率及LinkFrequencyVS灵敏度等读写器测试技术
节约时间和成本,用户可灵活创建性能矩阵用于更好 分析。
TX功率范围从 dBm到 dBm
根据客户企业需求,高速测试 个RAINRFIDinlay或标签多个频点 性能
读写器及不同标签 物理现象和通信特征
分析RFID应用调试和新读写器开发(支持有线和无线)
提高产品 整体质量管理水平。
灵敏度- 零dBm
读取EP TID和内存
写入存储器(编码)
测量标签在不同频率上 灵敏度
月 日,为期 天 IOTE 零 零第 届全世界物联网展·深圳站在深圳福田会展中心完美落幕。此次展会以“数智新基,狗粮快讯网上述消息,万物生G”为主题,聚焦 G新基建、智慧地区、工业物联网落地场景,致力于为物联网产业界人士搭建 个资源互换、益处共享、合作共进 大平台。
触发外部硬件 GPIO
用户接口USB
零 .XplorerRAINInline高速标签 测试设备
零 .CISCRFIDXplorer测试仪
唐领科技始终专注于为物联网市场 繁荣昌盛添 份助力。
部分特点
同时,在展会现场还展出了高精度、便携可靠 CISCRFIDXplorer测试仪,集读写器测试、标签测试和读写器、标签通信分析 合 体 设备。
在展会上,唐领科技展出了新新 符合RAINRFID质量 CISCRAINInline。CISCRAINInline是 款在 工序中对RAINInlay和标签进行高速性能测试 设备,它为 工序 始终提供质量保证。它带有 个GUI,协助用户对性能指标进行详细 了解。
在线测试仪 优势
此次展会中,唐领科技展示了两大测试解决方案,包含，RAININLINE高速标签 测试仪、RFIDXplorer测试仪,展会现场展示 专业稳定 设备和成熟可靠 解决方案吸引了众多参展观众和参展商 驻足咨询,场面异常火爆。
读写器测试功能，
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